Name: Probador de IC Nikou Profesional Circuito Integrado
Brand: Nikou
SKU: 00645237343668
Price: 1719.77 MXN
Availability: InStock

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New Item Page - Reviews Placeholder Module, Wednesday, August 23, 2023, 12:41:20:28 pm

Product Description Placeholder Module, Monday, February 13, 2023, 11:53:20:01 am

Product Specifications Placeholder Module, Monday, February 13, 2023, 11:55:48:74 am

Product Warranty Placeholder Module, Monday, February 13, 2023, 11:57:01:93 am

Refurbished Info Placeholder Module, Monday, February 13, 2023, 11:56:19:46 am

SellersSecondaryBuyBox Module, Monday, February 13, 2023, 11:52:40:61 am

<div>1、Aplicable: el probador de IC puede probar la serie osmo, la serie cd4000, la serie hef400, la serie 4500, los amplificadores operacionales, los chips de interfaz, los optoacopladores, la identificación automática del triodo de la identificación del valor del regulador de voltaje, etc. 2、Modelos integrados: varios tipos de modelos de datos de chip integrados más de 1300 tipos, modelos de datos de transistores más de 420 tipos, para satisfacer sus necesidades de uso diario 3、Eficaz y práctico: cubre la mayoría de los dispositivos comunes dentro de 24 pines, lo que puede reducir significativamente la carga de trabajo de mantenimiento y mejorar la eficiencia del mantenimiento 4、Probador de mantenimiento: el probador de IC de transistores es un probador de mantenimiento multifuncional diseñado específicamente para el personal de mantenimiento de primera línea, puede elegir entre diferentes modos de prueba modo 5v, modo 3.3v, modo automático 5、Material ABS: el probador de IC profesional está hecho de material ABS, que es portátil y duradero, y se puede usar con confianza</div>

<ul><li>Especificación</li><li>Tipo de artículo: Probador de IC</li><li>Material: ABS</li><li>Prueba: Serie 74ch, para la serie Osmo, serie Cd4000, serie Hef400, serie 4500, amplificador operacional, chip de clase de interfaz, optoacoplador, identificación automática de transistores, identificación del valor de voltaje del regulador de voltaje</li><li>Especificaciones de la batería del probador: 2 pilas AA (no incluidas)</li><li>Resolución teórica de voltaje de 5 V: 0,0048 V</li><li>Seleccione diferentes modos de prueba: modo de 5 V, modo de 3,3 V, modo automático</li><li>P: ¿Hay una prueba de ciclo?</li><li>R: El directorio de búsqueda es 1 + 11 veces la prueba, otros directorios son directamente 12 veces la prueba, es decir, no presionó la tecla Enter una vez para ejecutar la prueba 12 veces, siempre que haya una prueba que no pase, el chip se considera un chip defectuoso</li><li>Los probadores se envían sin baterías</li><li>Lista de paquetes</li><li>1 x Probador de IC</li><li></li><li>3 x Soporte</li><li></li><li>1 x Manual del usuario</li><li>Nota</li><li><div>P: ¿Qué es la prueba de carga?</div><div>R: Prueba de carga que cada pin de salida del chip en la prueba del chip se agrega con una cierta carga, de modo que no esté funcionando en el estado sin carga, más cerca del chip en el estado de trabajo del circuito real. La importancia de la prueba de carga en comparación con la prueba sin carga es que puede probar el chip para detectar fallas suaves como capacidad de manejo reducida, función normal pero envejecimiento, avería débil. Los programadores generalmente usan la prueba sin carga, los probadores de circuitos integrados generalmente usan una prueba de carga, los probadores grandes usan una prueba de impedancia variable de carga múltiple con mayor precisión. Esta máquina usa una prueba de carga fija, el efecto es peor que la máquina grande mejor que la prueba sin carga</div><div>P: ¿Cuál es el significado de la prueba de umbral?</div><div>R: La prueba funcional es la prueba más básica Cuando el chip está gravemente dañado, como una avería, un circuito abierto, etc., solo se puede identificar la prueba funcional. Para el envejecimiento del chip, la importancia de la prueba de umbral para la disminución de la potencia de conducción pasa a primer plano. El siguiente diagrama esquemático de un chip lógico en el VT4 y VT5 en el envejecimiento aparecerá la caída del valor beta que resulta en un nivel de salida no estándar, en el rendimiento real de la placa puede ser a veces normal y a veces anormal o aunque la falla del cambio de temperatura desaparezca. Usamos un ejemplo para verificar: un chip de la serie 74 a una serie de sus pines de salida en serie con una resistencia, simulando la disminución de la unidad de envejecimiento del chip. Se puede ver que el programador es incapaz de identificar dispositivos antiguos y no puede distinguir el tipo. (No malinterprete que no hay intención de denigrar a ningún programador de marca, otras marcas de programadores también son iguales, la razón es que el uso de diferentes diseños de estructura de hardware es diferente)</div></li></ul>

País de Origen

Contiene sustancias químicas

Contiene gas comprimido (aerosol)

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Contiene pesticida

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Marca

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Probador de IC Nikou Profesional Circuito Integrado

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Especificación$$Tipo de artículo: Probador de IC$$Material: ABS$$Prueba: Serie 74ch, para la serie Osmo, serie Cd4000, serie Hef400, serie 4500, amplificador operacional, chip de clase de interfaz, optoacoplador, identificación automática de transistores, identificación del valor de voltaje del regulador de voltaje$$Especificaciones de la batería del probador: 2 pilas AA (no incluidas)$$Resolución teórica de voltaje de 5 V: 0,0048 V$$Seleccione diferentes modos de prueba: modo de 5 V, modo de 3,3 V, modo automático$$P: ¿Hay una prueba de ciclo?$$R: El directorio de búsqueda es 1 + 11 veces la prueba, otros directorios son directamente 12 veces la prueba, es decir, no presionó la tecla Enter una vez para ejecutar la prueba 12 veces, siempre que haya una prueba que no pase, el chip se considera un chip defectuoso$$Los probadores se envían sin baterías$$Lista de paquetes$$1 x Probador de IC$$$$3 x Soporte$$$$1 x Manual del usuario$$Nota$$<div>P: ¿Qué es la prueba de carga?</div><div>R: Prueba de carga que cada pin de salida del chip en la prueba del chip se agrega con una cierta carga, de modo que no esté funcionando en el estado sin carga, más cerca del chip en el estado de trabajo del circuito real. La importancia de la prueba de carga en comparación con la prueba sin carga es que puede probar el chip para detectar fallas suaves como capacidad de manejo reducida, función normal pero envejecimiento, avería débil. Los programadores generalmente usan la prueba sin carga, los probadores de circuitos integrados generalmente usan una prueba de carga, los probadores grandes usan una prueba de impedancia variable de carga múltiple con mayor precisión. Esta máquina usa una prueba de carga fija, el efecto es peor que la máquina grande mejor que la prueba sin carga</div><div>P: ¿Cuál es el significado de la prueba de umbral?</div><div>R: La prueba funcional es la prueba más básica Cuando el chip está gravemente dañado, como una avería, un circuito abierto, etc., solo se puede identificar la prueba funcional. Para el envejecimiento del chip, la importancia de la prueba de umbral para la disminución de la potencia de conducción pasa a primer plano. El siguiente diagrama esquemático de un chip lógico en el VT4 y VT5 en el envejecimiento aparecerá la caída del valor beta que resulta en un nivel de salida no estándar, en el rendimiento real de la placa puede ser a veces normal y a veces anormal o aunque la falla del cambio de temperatura desaparezca. Usamos un ejemplo para verificar: un chip de la serie 74 a una serie de sus pines de salida en serie con una resistencia, simulando la disminución de la unidad de envejecimiento del chip. Se puede ver que el programador es incapaz de identificar dispositivos antiguos y no puede distinguir el tipo. (No malinterprete que no hay intención de denigrar a ningún programador de marca, otras marcas de programadores también son iguales, la razón es que el uso de diferentes diseños de estructura de hardware es diferente)</div>